產(chǎn)品分類
日本MICRO微方UV-LED區(qū)域照射UVA50D是一款專業(yè)工業(yè)級固化設(shè)備,采用高密度365nm LED陣列,可產(chǎn)生100×100mm均勻光斑(中心強度4000μW/cm²),具備IP54防護和磁吸式UV/白光快速切換功能。其無紅外熱輻射特性特別適合精密電子元件固化,模塊化設(shè)計支持多機并聯(lián)實現(xiàn)1.2米連續(xù)照射,較傳統(tǒng)汞燈節(jié)能40%以上,已廣泛應(yīng)用于汽車涂裝、電子封裝等領(lǐng)域。
MICRO微方磁粉探傷用LED黑光燈UVT10x100是一款專業(yè)級紫外檢測設(shè)備,采用高密度365nm LED陣列,可在100mm工作距離下生成100mm直徑的高強度紫外光斑(典型值4000μW/cm²)。該設(shè)備創(chuàng)新采用模塊化濾光系統(tǒng),支持10秒內(nèi)完成UV/白光模式切換,配備智能散熱結(jié)構(gòu)和IP55防護機身,特別適用于大型結(jié)構(gòu)件焊接檢測和軌道交通輪對探傷等工業(yè)場景。
日本MICRO微方磁粉探傷用LED黑光燈UVT25x60是一款專為精密部件檢測設(shè)計的便攜式紫外光源。該設(shè)備采用高純度365nm LED陣列,在250mm工作距離下可產(chǎn)生60mm直徑的高強度紫外光斑(典型值3000μW/cm²),特別適用于齒輪嚙合面、渦輪葉片榫槽等狹小空間檢測。
日本MICRO微方磁粉探傷用LED黑光燈UVT600日本MICRO微方UVT600磁粉探傷LED黑光燈是專為工業(yè)無損檢測設(shè)計的高性能設(shè)備,通過創(chuàng)新技術(shù)解決傳統(tǒng)探傷光源的痛點。其核心采用?雙單元集成架構(gòu)?,內(nèi)置兩組UVT300核心模組,在600mm工作距離下提供?直徑600mm的均勻照射場?,覆蓋大型工件檢測區(qū)域,顯著提升檢測效率?。
日本MICRO微方磁粉探傷用LED黑光燈UVT300是一款專業(yè)級無損檢測設(shè)備,采用365nm波長高純度UV-LED光源,具備30000μW/cm²的紫外線強度輸出。該設(shè)備通過IP54防護認證,配備智能溫控系統(tǒng)確保長時間穩(wěn)定工作,特別適用于航空航天、軌道交通等領(lǐng)域的金屬部件裂紋檢測,其便攜式設(shè)計配合3小時續(xù)航能力,可滿足現(xiàn)場快速探傷需求。
日本MICRO微方BGA顯微鏡MS-1000A-LS是專為高密度電子封裝設(shè)計的便攜式檢測設(shè)備。該產(chǎn)品采用70-110倍動態(tài)變焦光學(xué)系統(tǒng)與棱鏡側(cè)視技術(shù),支持反射/透射雙模式成像,可精準識別0.5μm級焊球缺陷(如虛焊、橋接)。600g超輕機身配合開放式結(jié)構(gòu)設(shè)計,適配產(chǎn)線快速移動檢測需求,可選配X射線模塊實現(xiàn)交叉驗證,是提升BGA焊接良率的高效解決方案。
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